IT之家11月4日消息 iPhone X于昨日正式上市开售，国外的苹果数码视频达人EverythingApplePro第一时间为我们带来了iPhone X的跌落测试，测试中还将iPhone X和iPhone 8进行了比对。测试结果如何？一起来看一下吧。
测试开始时，EverythingApplePro先将iPhone X和iPhone 8戴上厚厚的保护套进行测试，跌落高度为肩部以上，模拟的是打电话时手机不慎掉落的场景，跌落方式包括背面朝下、底部朝下、正面朝下三种。结果两款手机都没有出现明显的损伤。
接下来，EverythingApplePro将iPhone X和iPhone 8的保护套去掉，继续进行测试，跌落高度分别为腰部和肩部以上，模拟的是手机从裤子口袋里掉落和打电话时不慎掉落的场景，跌落方式同样包括背面朝下、底部朝下、正面朝下三种。
从测试结果来看，iPhone 8在进行肩部以上高度跌落测试时，刚开始的背面朝下跌落就让其出现了大面积背壳玻璃碎裂，底部朝下的时候，直接把边角磕掉了一块，但是其正面玻璃在所有测试中均保持完好无损。
而iPhone X的跌落测试结果就比较让人意外了，其在上述所有测试环节结束后没有出现一丝碎裂，顺利通过了测试。
但悲剧的是，测试完成后当EverythingApplePro想打开iPhone X的时候却发现，面容ID竟然坏了……
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