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全球单芯片通量最高的纳米孔长读长测序仪发布

2025/3/1 16:41:41 来源:IT之家 作者:问舟 责编:问舟

IT之家 3 月 1 日消息,华大智造 SEQ ALL 联盟年度峰会今日在杭州举行,全球单芯片设计通量最高的纳米孔长读长测序仪 CycloneSEQ G400-ER 正式宣布上市,华大智造为全球经销商。

IT之家注:G400-ER 中的 400 是通量,E 是电信号,R 是 Research Only,原代号 WY01。

据科创板日报,目前超 300 台 CycloneSEQ 纳米孔测序仪已在华大序风杭州生产基地下线并完成装机。

CycloneSEQ G400-ER 此前已经获得紫丁香创意设计奖,配备高通量高密度芯片,不仅具有超长读长和持久续测等性能,更能够全面覆盖复杂基因组序列。

除此之外,去年 9 月推出的 CycloneSEQ-WT02 也将改名 G100-ER,采用双芯片架构,支持独立运行,具备灵活的通量选择,全覆盖、快速读和自由测三大优势,能够轻松应对复杂序列的挑战。

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关键词:华大智造

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